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京都玉崎株式会社
深圳市京都玉崎电子有限公司
Tel:0755-28578111
Fax:0755-28578000
Email:info@tamasaki.com
无损检测应用
无损检测用途广泛,应用于各个领域。
无损检测的目的和可使用的材料根据测试类型的不同而有所不同。例如,涡流探伤可以非接触、高速地检测导体表面的缺陷,但不能用于非导体,而且只能有限程度地检测内部缺陷。因此,有必要根据预期用途选择合适的测试。
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